目前，隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，國際間相當重視LED測試標準的制訂。如美國國家標準檢測研究所（NIST）正在開展LED測試方法的研究，準備建立整套的LED測試方法和標準。日本也成立了「白光LED測試研究委員會」，專門研究照明用白光LED的測試方法和技術(shù)標準。

世界發(fā)達國家為了搶佔LED先機，在LED標準和測試方面都投入了大量的人力物力，在標準方面注重選擇LED特性參數(shù)及測試方法研究。同時，許多國外大公司的研究和開發(fā)人員正在積極參與國家和國際專業(yè)化組織，制訂半導(dǎo)體照明測試標準。比方說過去美國Lumileds與日本Nichia就宣佈過雙方進行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán)，并準備聯(lián)合制訂功率型LED標準，以推動市場應(yīng)用。

照明LED標準及檢測技術(shù)的現(xiàn)狀 國際照明委員會（CIE）和國際電工委員會（IEC）都沒有關(guān)于LED照明的標準。嚴格地說，國外目前沒有專門命名為半導(dǎo)體照明的標準，只有有關(guān)普通LED的測試標準和與普通光源有關(guān)的照明方面的標準。普通LED的測試標準有：
1.IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)
IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及積體電路
2.IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:OptoELectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)
IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及積體電路零部件5-2：光電子器件—分類特徵及要素(1997-09)
3.IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)
IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及積體電路
零部件 5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)
4.IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)
IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3：光電子器件—顯示用發(fā)光二極體空白詳細標準（1998-02）
5.CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
CIE127-1997 LED測試方法（1997）
6.CIE/ISO standards on LED intensity measurements
CIE/ISO LED強度測試標準

國際照明委員會（ CIE）1997年發(fā)表 CIE127-1997 LED測試方法 ， 把 LED 強度測試確定為平均強度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結(jié)構(gòu)和探測器大小，這樣就為 LED 準確測試比對奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE 127－1997 測試方法 并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業(yè)都已采用。 但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展，許多新的 LED技術(shù)特性 CIE127-1997 LED測試方法沒有涉及。

現(xiàn)在市場上有新的發(fā)展，日本更是努力要打造出完整的LED標準來，隨著相關(guān)標準越來越明確，LED產(chǎn)業(yè)的發(fā)展將更為穩(wěn)定。